如何判定晶振的频率,怎样测晶振

常见功能元件——晶振—功能特点与检测1.晶振的实物外形和内部结构及电路图形符号和等效电路晶振的全称是石英晶体振荡器。晶体是其中的谐振元件，用于稳定频率和选择频率，精度高，稳定度高，石英是自然界天然形成的结晶物质，具有压电效应的特性，受到机械应力时会产生振动，由此产生的电压信号的频率等于机械振动的频率，当在晶体两端施加交流电压时，会在输入电压频率的作用下振动，且在晶体的自然谐振频率下会产生最强烈的振动现象。

2.晶振的应用电子产品电路中，晶振通常与微处理器芯片内部的振荡电路构成振荡电路，为电路提供时钟信号3.晶振引脚的信号波形用示波器检测引脚的信号波形即可观测到与晶振频率相同的信号波形4.晶振引脚之间阻值的检测方法若可测得一定的阻值，则说明晶振损坏若所测阻值为无穷大，也不可立刻判断晶振正常，因为晶振出现开路故障时也会测到无穷大的阻值，此时需要采用替换法排查故障。

晶振的作用就是在外围元件或者处理器内部元件支持下，产生震荡，给处理器提供主振频率。通常晶振电路的振荡频率由晶振元件决定（当然可以进行微小调节），可以从晶振元件的外壳上读取，（它是晶振元件的主要参数之一）是在制造时芯片的切割方式决定的。应该不须计算。晶振就是单片机的心脏，用它的上下变化产生的时钟来触发单片机操作。晶振的频率是做出来就固定了，比如有12M的24M的，用时选择你想要的频率的晶振。

测量晶振的负载谐振频率有很多种方法，其中一种就是直接阻抗法，它使用网络分析仪，比物理负载电容法等其它方法更加准确、方便并且成本更低。下面介绍的是如何使用直接阻抗法进行测量并通过实测数据说明它好于其它测量方法的原因。在晶振参数测量中，由于Fs和Fr阻抗相对较低，按IEC444和EIA512进行Fs/Fr测量没有什么困难，对于负载谐振频率(FL)的测量才是主要问题，特别是负载电容(CL)很低的时候。

所以后来又出现几种新的测量方法，如计算法、物理负载电容法等，这些方法设计用于测量低阻抗晶振，这样就可使用低精度设备。我们下面先对各种方法作一比较。负载谐振频率测量法，如果已经知道被测器件是一个线性晶振，则可以使用这个方法来测量；但在大多数场合下，需要先有一个测试方法来告诉你它是否是线性的，所以计算法不实用，除非你在测试前已经知道晶振是线性的。

通过外观，看上面印的字，一般常用的频率点有25M,24M，12M，11.0592M，24.576M，32.768K。通过外观查看，具体看法：看上面印的字，一般常用的频率点有25M,24M，12M，11.0592M，24.576M，32.768K。